商品介紹

ResiScope TM II

累積了20年的經驗及法國Supélec技術支援,法國CSI研發了這款ResiScopeTM II,全球最佳AFM電特性測量系統
ResiScopeTM II 可以提供所有電特性測量模式,利用材料電阻特性,測量出更多潛在材料表徵!

ResiScopeTM II
  • 全球最佳AFM電特性測量系統
  • 防止樣品及探針在高電流量測下損壞
  • 低電流、高解析度、高靈敏度
  • 更有效量測材料多重表徵及內部特性
應用
  1. 材料、金屬、聚合物
  2. 半導體
  3. 光伏電池

太陽能電池樣品

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                              Topography                                                                         ResiScope

半導體 - 內部摻雜

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          Resistance Image of a PMOS-transistor                           Resistance Image of  n-type « burried » layer  -  cleaved trench


KFM - 搭配ResiScopeTM II ( 掃描同區塊 )

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                Topography in AC mode                                          KFM                                               ResiScopeTM II

聚合物材料

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      Resistance – 1µm scan – Complex alloy grains study
AFM原子力顯微鏡 1235067