Phoenix HT 超高溫接觸角量測儀
針對高溫量測設計, SUS 304
腔體及水冷系統,可抽真空及通入氣體控制樣品氧化,特殊高亮度光源提昇高溫下影像對比,可客製更高溫度或更大樣品尺寸
針對高溫量測設計,
可抽真空及通入氣體控制樣品氧化,
可客製更高溫度或更大樣品尺寸
- 自動分析: 靜態接觸角分析
- 接觸角量測範圍:0° ~ 180°, 精確度:±1°
- 加熱溫度: 多段式PID溫度控制, 最高可加熱至1750℃.
- 光學系統: 特殊高倍變焦, USB CCD (70 張/秒)
針對高溫量測設計, SUS 304
腔體及水冷系統,可抽真空及通入氣體控制樣品氧化,特殊高亮度光源提昇高溫下影像對比,可客製更高溫度或更大樣品尺寸
針對高溫量測設計,
可抽真空及通入氣體控制樣品氧化,
可客製更高溫度或更大樣品尺寸